| Publikationstyp: | Beitrag in wissenschaftlicher Zeitschrift |
| Art der Begutachtung: | Peer review (Publikation) |
| Titel: | Electron emission mechanism for impact of CN- and SiN- clusters |
| Autor/-in: | St. John, Pamela M. Yeretzian, Chahan Whetten, Robert L. |
| DOI: | 10.1021/j100202a005 |
| Erschienen in: | The Journal of Physical Chemistry |
| Band(Heft): | 96 |
| Heft: | 23 |
| Seite(n): | 9100 |
| Seiten bis: | 9104 |
| Erscheinungsdatum: | Nov-1992 |
| Verlag / Hrsg. Institution: | American Chemical Society |
| Verlag / Hrsg. Institution: | Washington |
| ISSN: | 0022-3654 1541-5740 |
| Sprache: | Englisch |
| Schlagwörter: | Surface collisions; Fullerenes |
| Fachgebiet (DDC): | 540: Chemie |
| Zusammenfassung: | Surface collisions of negatively charged atomic clusters CN- and SiN-, N < 15, have been investigated by timcof-flight methods. At low impact velocities ( < 10 km/s), the intact scattered ion and its charged fragments are clearly observed, along with ejected electrons. |
| URI: | https://digitalcollection.zhaw.ch/handle/11475/5442 |
| Volltext Version: | Publizierte Version |
| Lizenz (gemäss Verlagsvertrag): | Lizenz gemäss Verlagsvertrag |
| Departement: | Life Sciences und Facility Management |
| Organisationseinheit: | Institut für Chemie und Biotechnologie (ICBT) |
| Enthalten in den Sammlungen: | Publikationen Life Sciences und Facility Management |
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St. John, P. M., Yeretzian, C., & Whetten, R. L. (1992). Electron emission mechanism for impact of CN- and SiN- clusters. The Journal of Physical Chemistry, 96(23), 9100–9104. https://doi.org/10.1021/j100202a005
St. John, P.M., Yeretzian, C. and Whetten, R.L. (1992) ‘Electron emission mechanism for impact of CN- and SiN- clusters’, The Journal of Physical Chemistry, 96(23), pp. 9100–9104. Available at: https://doi.org/10.1021/j100202a005.
P. M. St. John, C. Yeretzian, and R. L. Whetten, “Electron emission mechanism for impact of CN- and SiN- clusters,” The Journal of Physical Chemistry, vol. 96, no. 23, pp. 9100–9104, Nov. 1992, doi: 10.1021/j100202a005.
ST. JOHN, Pamela M., Chahan YERETZIAN und Robert L. WHETTEN, 1992. Electron emission mechanism for impact of CN- and SiN- clusters. The Journal of Physical Chemistry. November 1992. Bd. 96, Nr. 23, S. 9100–9104. DOI 10.1021/j100202a005
St. John, Pamela M., Chahan Yeretzian, and Robert L. Whetten. 1992. “Electron Emission Mechanism for Impact of CN- and SiN- Clusters.” The Journal of Physical Chemistry 96 (23): 9100–9104. https://doi.org/10.1021/j100202a005.
St. John, Pamela M., et al. “Electron Emission Mechanism for Impact of CN- and SiN- Clusters.” The Journal of Physical Chemistry, vol. 96, no. 23, Nov. 1992, pp. 9100–4, https://doi.org/10.1021/j100202a005.
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