| Publikationstyp: | Buchbeitrag |
| Art der Begutachtung: | Editorial review |
| Titel: | Review of FIB tomography |
| Autor/-in: | Holzer, Lorenz Cantoni, Marco |
| Erschienen in: | Nanofabrication using focused ion and electron beams : principles and applications |
| Herausgeber/-in des übergeordneten Werkes: | Utke, Ivo Moshkalev, Stanislav Russel, Philip E. |
| Seite(n): | 410 |
| Seiten bis: | 435 |
| Erscheinungsdatum: | 2012 |
| Reihe: | Oxford series in nanomanufacturing |
| Verlag / Hrsg. Institution: | Oxford University Press |
| Verlag / Hrsg. Institution: | New York |
| ISBN: | 978-0-19-973421-4 |
| Sprache: | Englisch |
| Schlagwörter: | Map |
| Fachgebiet (DDC): | 620.11: Werkstoffe |
| URI: | https://digitalcollection.zhaw.ch/handle/11475/2203 |
| Volltext Version: | Publizierte Version |
| Lizenz (gemäss Verlagsvertrag): | Lizenz gemäss Verlagsvertrag |
| Departement: | School of Engineering |
| Organisationseinheit: | Institute of Computational Physics (ICP) |
| Enthalten in den Sammlungen: | Publikationen School of Engineering |
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Holzer, L., & Cantoni, M. (2012). Review of FIB tomography. In I. Utke, S. Moshkalev, & P. E. Russel (Eds.), Nanofabrication using focused ion and electron beams : principles and applications (pp. 410–435). Oxford University Press.
Holzer, L. and Cantoni, M. (2012) ‘Review of FIB tomography’, in I. Utke, S. Moshkalev, and P.E. Russel (eds) Nanofabrication using focused ion and electron beams : principles and applications. New York: Oxford University Press, pp. 410–435.
L. Holzer and M. Cantoni, “Review of FIB tomography,” in Nanofabrication using focused ion and electron beams : principles and applications, I. Utke, S. Moshkalev, and P. E. Russel, Eds. New York: Oxford University Press, 2012, pp. 410–435.
HOLZER, Lorenz und Marco CANTONI, 2012. Review of FIB tomography. In: Ivo UTKE, Stanislav MOSHKALEV und Philip E. RUSSEL (Hrsg.), Nanofabrication using focused ion and electron beams : principles and applications. New York: Oxford University Press. S. 410–435. ISBN 978-0-19-973421-4
Holzer, Lorenz, and Marco Cantoni. 2012. “Review of FIB Tomography.” In Nanofabrication Using Focused Ion and Electron Beams : Principles and Applications, edited by Ivo Utke, Stanislav Moshkalev, and Philip E. Russel, 410–35. New York: Oxford University Press.
Holzer, Lorenz, and Marco Cantoni. “Review of FIB Tomography.” Nanofabrication Using Focused Ion and Electron Beams : Principles and Applications, edited by Ivo Utke et al., Oxford University Press, 2012, pp. 410–35.
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