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2014
Model-based prediction of the ohmic resistance of metallic interconnects from oxide scale growth based on scanning electron microscopy
Linder, Markus
;
Hocker, Thomas
;
Holzer, Lorenz
;
Friedrich, K. Andreas
;
Iwanschitz, Boris
;
Mai, Andreas
;
Schuler, J. Andreas
Facetten
Urheber/-in
1
Friedrich, K. Andreas
1
Hocker, Thomas
1
Iwanschitz, Boris
1
Linder, Markus
1
Mai, Andreas
1
Schuler, J. Andreas
Verfügbarkeit
1
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