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DC FieldValueLanguage
dc.contributor.otherHütter, Thomas-
dc.contributor.otherHeitz, Christoph-
dc.contributor.otherSchawe, Jürgen-
dc.date.accessioned2019-05-06T09:27:24Z-
dc.date.available2019-05-06T09:27:24Z-
dc.date.issued2007-08-29-
dc.date.submitted2003-07-04-
dc.identifier.urihttps://digitalcollection.zhaw.ch/handle/11475/17029-
dc.identifier.urihttps://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP1494126B1de_CH
dc.description.abstractDie Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur thermoanalytischen Stoffuntersuchung, bei dem ein Stoff einer Anregung mit mindestens einer einer veränderlichen Temperatur entsprechenden Anregungsgröße ausgesetzt wird, die eine beobachtbare Antwort mit mindestens einer einem Wärmestrom eines dynamischen Thermoanalyseverfahrens oder einer Heizleistungsdifferenz eines dynamischen Leistungskompensations-Thermoanalyseverfahrens entsprechenden Antwortgröße hervorruft, welche mit Hilfe einer Zeitreihe von Werten der Anregung und Meßwerten der Antwort zur Ermittlung der Wärmekapazität des Stoffs ausgewertet wird, sowie auf eine Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens.de_CH
dc.description.sponsorshipMettler Toledo AGde_CH
dc.language.isodede_CH
dc.subject.ddc530: Physikde_CH
dc.titleVerfahren und Vorrichtung zur Stoffuntersuchungde_CH
dc.title.alternativeMethod and Apparatus for the examination of a materialde_CH
dc.title.alternativeProcédé et appareil pour analyser un matériaude_CH
dc.typePatentde_CH
dcterms.typeTextde_CH
zhaw.departementSchool of Engineeringde_CH
zhaw.organisationalunitInstitut für Datenanalyse und Prozessdesign (IDP)de_CH
zhaw.funding.euNode_CH
zhaw.originated.zhawYesde_CH
zhaw.id.patentEP1494126de_CH
zhaw.publication.codeB1de_CH
zhaw.display.portraitYesde_CH
zhaw.relation.patentAT371901Tde_CH
zhaw.relation.patentCN100442269Cde_CH
zhaw.relation.patentCN1846205Ade_CH
zhaw.relation.patentEP1494126A1de_CH
zhaw.relation.patentEP1644844A1de_CH
zhaw.relation.patentEP1644844B1de_CH
zhaw.relation.patentJP2009513944Ade_CH
zhaw.relation.patentJP4585516B2de_CH
zhaw.relation.patentUS2006256836A1de_CH
zhaw.relation.patentUS7470058B2de_CH
zhaw.relation.patentWO2005003992A1de_CH
zhaw.relation.patentWO2005003992A8de_CH
zhaw.relation.patentWO2005003992B1de_CH
Appears in collections:Patente School of Engineering

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Hütter, T., Heitz, C., & Schawe, J. (2007). Verfahren und Vorrichtung zur Stoffuntersuchung (Patent No. EP1494126B1). https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP1494126B1
Hütter, T., Heitz, C. and Schawe, J. (2007) ‘Verfahren und Vorrichtung zur Stoffuntersuchung’. Available at: https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP1494126B1.
T. Hütter, C. Heitz, and J. Schawe, “Verfahren und Vorrichtung zur Stoffuntersuchung,” EP1494126B1, Aug. 29, 2007 [Online]. Available: https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP1494126B1
HÜTTER, Thomas, Christoph HEITZ und Jürgen SCHAWE, 2007. Verfahren und Vorrichtung zur Stoffuntersuchung [online]. EP1494126B1. 29 August 2007. Verfügbar unter: https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP1494126B1
Hütter, Thomas, Christoph Heitz, and Jürgen Schawe. 2007. Verfahren und Vorrichtung zur Stoffuntersuchung. EP1494126B1, filed July 4, 2003, and issued August 29, 2007. https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP1494126B1.
Hütter, Thomas, et al. Verfahren und Vorrichtung zur Stoffuntersuchung. EP1494126B1, 29 Aug. 2007, https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP1494126B1.


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