Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.other | Hütter, Thomas | - |
dc.contributor.other | Heitz, Christoph | - |
dc.contributor.other | Schawe, Jürgen | - |
dc.date.accessioned | 2019-05-06T09:27:24Z | - |
dc.date.available | 2019-05-06T09:27:24Z | - |
dc.date.issued | 2007-08-29 | - |
dc.date.submitted | 2003-07-04 | - |
dc.identifier.uri | https://digitalcollection.zhaw.ch/handle/11475/17029 | - |
dc.identifier.uri | https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP1494126B1 | de_CH |
dc.description.abstract | Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur thermoanalytischen Stoffuntersuchung, bei dem ein Stoff einer Anregung mit mindestens einer einer veränderlichen Temperatur entsprechenden Anregungsgröße ausgesetzt wird, die eine beobachtbare Antwort mit mindestens einer einem Wärmestrom eines dynamischen Thermoanalyseverfahrens oder einer Heizleistungsdifferenz eines dynamischen Leistungskompensations-Thermoanalyseverfahrens entsprechenden Antwortgröße hervorruft, welche mit Hilfe einer Zeitreihe von Werten der Anregung und Meßwerten der Antwort zur Ermittlung der Wärmekapazität des Stoffs ausgewertet wird, sowie auf eine Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens. | de_CH |
dc.description.sponsorship | Mettler Toledo AG | de_CH |
dc.language.iso | de | de_CH |
dc.subject.ddc | 530: Physik | de_CH |
dc.title | Verfahren und Vorrichtung zur Stoffuntersuchung | de_CH |
dc.title.alternative | Method and Apparatus for the examination of a material | de_CH |
dc.title.alternative | Procédé et appareil pour analyser un matériau | de_CH |
dc.type | Patent | de_CH |
dcterms.type | Text | de_CH |
zhaw.departement | School of Engineering | de_CH |
zhaw.organisationalunit | Institut für Datenanalyse und Prozessdesign (IDP) | de_CH |
zhaw.funding.eu | No | de_CH |
zhaw.originated.zhaw | Yes | de_CH |
zhaw.id.patent | EP1494126 | de_CH |
zhaw.publication.code | B1 | de_CH |
zhaw.display.portrait | Yes | de_CH |
zhaw.relation.patent | AT371901T | de_CH |
zhaw.relation.patent | CN100442269C | de_CH |
zhaw.relation.patent | CN1846205A | de_CH |
zhaw.relation.patent | EP1494126A1 | de_CH |
zhaw.relation.patent | EP1644844A1 | de_CH |
zhaw.relation.patent | EP1644844B1 | de_CH |
zhaw.relation.patent | JP2009513944A | de_CH |
zhaw.relation.patent | JP4585516B2 | de_CH |
zhaw.relation.patent | US2006256836A1 | de_CH |
zhaw.relation.patent | US7470058B2 | de_CH |
zhaw.relation.patent | WO2005003992A1 | de_CH |
zhaw.relation.patent | WO2005003992A8 | de_CH |
zhaw.relation.patent | WO2005003992B1 | de_CH |
Appears in collections: | Patente School of Engineering |
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Hütter, T., Heitz, C., & Schawe, J. (2007). Verfahren und Vorrichtung zur Stoffuntersuchung (Patent No. EP1494126B1). https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP1494126B1
Hütter, T., Heitz, C. and Schawe, J. (2007) ‘Verfahren und Vorrichtung zur Stoffuntersuchung’. Available at: https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP1494126B1.
T. Hütter, C. Heitz, and J. Schawe, “Verfahren und Vorrichtung zur Stoffuntersuchung,” EP1494126B1, Aug. 29, 2007 [Online]. Available: https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP1494126B1
HÜTTER, Thomas, Christoph HEITZ und Jürgen SCHAWE, 2007. Verfahren und Vorrichtung zur Stoffuntersuchung [online]. EP1494126B1. 29 August 2007. Verfügbar unter: https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP1494126B1
Hütter, Thomas, Christoph Heitz, and Jürgen Schawe. 2007. Verfahren und Vorrichtung zur Stoffuntersuchung. EP1494126B1, filed July 4, 2003, and issued August 29, 2007. https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP1494126B1.
Hütter, Thomas, et al. Verfahren und Vorrichtung zur Stoffuntersuchung. EP1494126B1, 29 Aug. 2007, https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP1494126B1.
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