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DC FieldValueLanguage
dc.contributor.otherHütter, Thomas-
dc.contributor.otherHeitz, Christoph-
dc.contributor.otherSchawe, Jürgen-
dc.date.accessioned2019-05-06T09:27:24Z-
dc.date.available2019-05-06T09:27:24Z-
dc.date.issued2007-08-29-
dc.identifier.urihttps://register.epo.org/application?number=EP03102015de_CH
dc.identifier.urihttps://digitalcollection.zhaw.ch/handle/11475/17029-
dc.description.abstractDie Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur thermoanalytischen Stoffuntersuchung, bei dem ein Stoff einer Anregung mit mindestens einer einer veränderlichen Temperatur entsprechenden Anregungsgröße ausgesetzt wird, die eine beobachtbare Antwort mit mindestens einer einem Wärmestrom eines dynamischen Thermoanalyseverfahrens oder einer Heizleistungsdifferenz eines dynamischen Leistungskompensations-Thermoanalyseverfahrens entsprechenden Antwortgröße hervorruft, welche mit Hilfe einer Zeitreihe von Werten der Anregung und Meßwerten der Antwort zur Ermittlung der Wärmekapazität des Stoffs ausgewertet wird, sowie auf eine Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens.de_CH
dc.description.sponsorshipMettler-Toledo AGde_CH
dc.language.isodede_CH
dc.subject.ddc530: Physikde_CH
dc.titleVerfahren und Vorrichtung zur Stoffuntersuchungde_CH
dc.title.alternativeMethod and Apparatus for the examination of a materialde_CH
dc.title.alternativeProcédé et appareil pour analyser un matériaude_CH
dc.typePatentde_CH
dcterms.typeTextde_CH
zhaw.departementSchool of Engineeringde_CH
zhaw.organisationalunitInstitut für Datenanalyse und Prozessdesign (IDP)de_CH
zhaw.funding.euNode_CH
zhaw.originated.zhawYesde_CH
zhaw.id.patentEP1494126de_CH
zhaw.publication.codeB1de_CH
Appears in Collections:Patente School of Engineering

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