Bitte benutzen Sie diese Kennung, um auf die Ressource zu verweisen:
https://doi.org/10.21256/zhaw-27639| Publikationstyp: | Konferenz: Paper |
| Art der Begutachtung: | Peer review (Abstract) |
| Titel: | Development of cost-effective automated test system for determining lifetime of gold contacts under mechanical load |
| Autor/-in: | Alaboz, Hakan Kovacs, Andras Safa, Yasser Mescheder, Ulrich |
| et. al: | No |
| DOI: | 10.21256/zhaw-27639 |
| Tagungsband: | MikroSystemTechnik Kongress 2021 : Mikroelektronik / Mikrosystemtechnik und ihre Anwendungen Innovative Produkte für zukunftsfähige Märkte |
| Seite(n): | 738 |
| Seiten bis: | 741 |
| Angaben zur Konferenz: | MikroSystemTechnik Kongress, Ludwigsburg, Deutschland, 8.-10. November 2021 |
| Erscheinungsdatum: | 1-Feb-2022 |
| Verlag / Hrsg. Institution: | VDE |
| Verlag / Hrsg. Institution: | Berlin |
| ISBN: | 978-3-8007-5656-8 |
| Sprache: | Englisch |
| Schlagwörter: | Abnutzung; Goldkontakt; Stresstest |
| Fachgebiet (DDC): | 620.11: Werkstoffe |
| Zusammenfassung: | Mechanic load tests for electrical contacts for different components have been performed and related standards have been developed for various use cases. Even though the readily available literature and standards, conditions of the testing of various components under mechanical loading remain similar. Real life operating conditions usually different then the testing conditions and even the slight difference can influence the precision of the prediction mechanisms. We propose an automated mechanical loading system to mimic real life operating condition and test lifetime of the contact parts. A cost effective, compact experimental test system was designed, produced and tested for stability issues. The automated test system successfully completed one million mechanical loading cycles on the samples and surface deformations as well as lifetime of some contact components were determined. A correlation has been found between computational model and the experimental results. |
| URI: | https://digitalcollection.zhaw.ch/handle/11475/27639 |
| Volltext Version: | Akzeptierte Version |
| Lizenz (gemäss Verlagsvertrag): | Keine Angabe |
| Departement: | School of Engineering |
| Organisationseinheit: | Institute of Computational Physics (ICP) |
| Publiziert im Rahmen des ZHAW-Projekts: | Design-Spaces zur Entwicklung von Sensor- und Aktorsystemen sowie Komponenten mit erhöhter Robustheit bezüglich Herstellung und Lebensdauer |
| Enthalten in den Sammlungen: | Publikationen School of Engineering |
Dateien zu dieser Ressource:
| Datei | Beschreibung | Größe | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 2022_Alaboz-etal_Lifetime-of-gold-contacts-under-mechanical-load-determination.pdf | Accepted Version | 1.31 MB | Adobe PDF |  Öffnen/Anzeigen |
Zur Langanzeige
Alaboz, H., Kovacs, A., Safa, Y., & Mescheder, U. (2022). Development of cost-effective automated test system for determining lifetime of gold contacts under mechanical load [Conference paper]. MikroSystemTechnik Kongress 2021 : Mikroelektronik / Mikrosystemtechnik Und Ihre Anwendungen Innovative Produkte Für Zukunftsfähige Märkte, 738–741. https://doi.org/10.21256/zhaw-27639
Alaboz, H. et al. (2022) ‘Development of cost-effective automated test system for determining lifetime of gold contacts under mechanical load’, in MikroSystemTechnik Kongress 2021 : Mikroelektronik / Mikrosystemtechnik und ihre Anwendungen Innovative Produkte für zukunftsfähige Märkte. Berlin: VDE, pp. 738–741. Available at: https://doi.org/10.21256/zhaw-27639.
H. Alaboz, A. Kovacs, Y. Safa, and U. Mescheder, “Development of cost-effective automated test system for determining lifetime of gold contacts under mechanical load,” in MikroSystemTechnik Kongress 2021 : Mikroelektronik / Mikrosystemtechnik und ihre Anwendungen Innovative Produkte für zukunftsfähige Märkte, Feb. 2022, pp. 738–741. doi: 10.21256/zhaw-27639.
ALABOZ, Hakan, Andras KOVACS, Yasser SAFA und Ulrich MESCHEDER, 2022. Development of cost-effective automated test system for determining lifetime of gold contacts under mechanical load. In: MikroSystemTechnik Kongress 2021 : Mikroelektronik / Mikrosystemtechnik und ihre Anwendungen Innovative Produkte für zukunftsfähige Märkte. Conference paper. Berlin: VDE. 1 Februar 2022. S. 738–741. ISBN 978-3-8007-5656-8
Alaboz, Hakan, Andras Kovacs, Yasser Safa, and Ulrich Mescheder. 2022. “Development of Cost-Effective Automated Test System for Determining Lifetime of Gold Contacts under Mechanical Load.” Conference paper. In MikroSystemTechnik Kongress 2021 : Mikroelektronik / Mikrosystemtechnik Und Ihre Anwendungen Innovative Produkte Für Zukunftsfähige Märkte, 738–41. Berlin: VDE. https://doi.org/10.21256/zhaw-27639.
Alaboz, Hakan, et al. “Development of Cost-Effective Automated Test System for Determining Lifetime of Gold Contacts under Mechanical Load.” MikroSystemTechnik Kongress 2021 : Mikroelektronik / Mikrosystemtechnik Und Ihre Anwendungen Innovative Produkte Für Zukunftsfähige Märkte, VDE, 2022, pp. 738–41, https://doi.org/10.21256/zhaw-27639.
Alle Ressourcen in diesem Repository sind urheberrechtlich geschützt, soweit nicht anderweitig angezeigt.