Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Scherrer, Christof | - |
| dc.contributor.author | Jung, Arnd | - |
| dc.date.accessioned | 2018-08-02T14:34:23Z | - |
| dc.date.available | 2018-08-02T14:34:23Z | - |
| dc.date.issued | 2013 | - |
| dc.identifier.issn | 0343-3579 | de_CH |
| dc.identifier.uri | https://digitalcollection.zhaw.ch/handle/11475/8829 | - |
| dc.language.iso | de | de_CH |
| dc.publisher | MAT-INFO, Werkstoff-Informationsgesellschaft | de_CH |
| dc.relation.ispartof | Praktische Metallographie | de_CH |
| dc.rights | Licence according to publishing contract | de_CH |
| dc.subject.ddc | 500: Naturwissenschaften | de_CH |
| dc.title | Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie sowie weiteren Analysemethoden | de_CH |
| dc.type | Beitrag in Magazin oder Zeitung | de_CH |
| dcterms.type | Text | de_CH |
| zhaw.departement | School of Engineering | de_CH |
| zhaw.organisationalunit | Institute of Materials and Process Engineering (IMPE) | de_CH |
| zhaw.funding.eu | No | de_CH |
| zhaw.originated.zhaw | Yes | de_CH |
| zhaw.pages.end | 212 | de_CH |
| zhaw.pages.start | 207 | de_CH |
| zhaw.publication.status | publishedVersion | de_CH |
| zhaw.volume | 45 | de_CH |
| zhaw.webfeed | Metallische Materialien | de_CH |
| Appears in collections: | Publikationen School of Engineering | |
Files in This Item:
There are no files associated with this item.
Show simple item record
Scherrer, C., & Jung, A. (2013). Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie sowie weiteren Analysemethoden. Praktische Metallographie, 45, 207–212.
Scherrer, C. and Jung, A. (2013) ‘Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie sowie weiteren Analysemethoden’, Praktische Metallographie, 45, pp. 207–212.
C. Scherrer and A. Jung, “Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie sowie weiteren Analysemethoden,” Praktische Metallographie, vol. 45, pp. 207–212, 2013.
SCHERRER, Christof und Arnd JUNG, 2013. Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie sowie weiteren Analysemethoden. Praktische Metallographie. 2013. Bd. 45, S. 207–212
Scherrer, Christof, and Arnd Jung. 2013. “Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie sowie weiteren Analysemethoden.” Praktische Metallographie 45: 207–12.
Scherrer, Christof, and Arnd Jung. “Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie sowie weiteren Analysemethoden.” Praktische Metallographie, vol. 45, 2013, pp. 207–12.
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.