Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie sowie weiteren Analysemethoden

Scherrer, Christof; Jung, Arnd

Publication type:	Contribution to magazine or newspaper
Title:	Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie sowie weiteren Analysemethoden
Authors:	Scherrer, Christof Jung, Arnd
Published in:	Praktische Metallographie
Volume(Issue):	45
Page(s):	207
Pages to:	212
Issue Date:	2013
Publisher / Ed. Institution:	MAT-INFO, Werkstoff-Informationsgesellschaft
ISSN:	0343-3579
Language:	German
Subject (DDC):	500: Natural sciences
URI:	https://digitalcollection.zhaw.ch/handle/11475/8829
Fulltext version:	Published version
License (according to publishing contract):	Licence according to publishing contract
Departement:	School of Engineering
Organisational Unit:	Institute of Materials and Process Engineering (IMPE)
Appears in collections:	Publikationen School of Engineering

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Scherrer, C., & Jung, A. (2013). Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie sowie weiteren Analysemethoden. Praktische Metallographie, 45, 207–212.

Scherrer, C. and Jung, A. (2013) ‘Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie sowie weiteren Analysemethoden’, Praktische Metallographie, 45, pp. 207–212.

C. Scherrer and A. Jung, “Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie sowie weiteren Analysemethoden,” Praktische Metallographie, vol. 45, pp. 207–212, 2013.

SCHERRER, Christof und Arnd JUNG, 2013. Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie sowie weiteren Analysemethoden. Praktische Metallographie. 2013. Bd. 45, S. 207–212

Scherrer, Christof, and Arnd Jung. 2013. “Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie sowie weiteren Analysemethoden.” Praktische Metallographie 45: 207–12.

Scherrer, Christof, and Arnd Jung. “Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie sowie weiteren Analysemethoden.” Praktische Metallographie, vol. 45, 2013, pp. 207–12.