Title: Korrelation von Analysemethoden
Authors : Scherrer, Christof
Jung, Arnd
Published in : Galvanotechnik
Volume(Issue) : 107
Issue : 1
Pages : 58
Pages to: 63
Publisher / Ed. Institution : Eugen G. Leuze Verlag
Issue Date: 2016
License (according to publishing contract) : Licence according to publishing contract
Language : German
Subject (DDC) : 500: Natural sciences and mathematics
Abstract: Unter dem Ausdruck „korrelative Mikroskopie“ versteht man eine Verbindung zwischen den mikroskopischen Methoden der Licht- (LM) und der Rasterelektronenmikroskopie (REM). Am Institute of Materials and Process Engineering der ZHAW wurde die korrelative Mikroskopie nun so stark erweitert, dass es möglich wurde, weitere Analysemethoden in eine „korrelative Analytik“ einzubinden. Deshalb soll die erweiterte Methode hier anschaulich anhand verschiedener Beispiele dargelegt werden. Diese Methode macht es möglich, ein und dieselbe Stelle einer Probe mit unterschiedlichen Analysemethoden zu untersuchen. Der Fokus dieses Beitrags liegt auf dem enormen Potential, die Methode selber wird nur soweit behandelt, wie es für das Verständnis der Beispiele nötig ist.
Departement: School of Engineering
Organisational Unit: Institute of Materials and Process Engineering (IMPE)
Publication type: Contribution to Magazine or Newspaper
ISSN: 0016-4232
URI: https://digitalcollection.zhaw.ch/handle/11475/8828
Appears in Collections:Publikationen School of Engineering

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