Bitte benutzen Sie diese Kennung, um auf die Ressource zu verweisen: https://doi.org/10.21256/zhaw-1993
Publikationstyp: Konferenz: Paper
Art der Begutachtung: Peer review (Publikation)
Titel: Simulations, measurements and optimization of OLEDs with scattering layer
Autor/-in: Altazin, Stéphane
Reynaud, Clément
Mayer, Ursula Maria
Lanz, Thomas
Lapagna, Kevin
Knaack, Reto
Penninck, Lieven
Kirsch, Christoph
Pernstich, Kurt P.
Harkema, Stephan
Hermes, Dorothee
Ruhstaller, Beat
DOI: 10.21256/zhaw-1993
10.1002/sdtp.10478
Tagungsband: SID international symposium : digest of technical papers
Band(Heft): 46
Seite(n): 564
Seiten bis: 567
Angaben zur Konferenz: International Symposium of the Society for Information display (SID), San Jose, USA, 21 May - 5 June 2015
Erscheinungsdatum: 2015
Verlag / Hrsg. Institution: Wiley-Blackwell Publishing
ISSN: 0097-966X
Sprache: Englisch
Schlagwörter: OLED; Light-scattering; Simulation; Mie particle
Fachgebiet (DDC): 
Zusammenfassung: A multi-scale optical model for organic light-emitting devices containing scattering layers is presented. This model describes the radiation of embedded oscillating dipoles and scattering from spherical particles. After successful model validation with experiments on a top-emitting white OLED, we show how this tool can be used for optimization with specific targets.
URI: https://digitalcollection.zhaw.ch/handle/11475/6937
Volltext Version: Publizierte Version
Lizenz (gemäss Verlagsvertrag): Lizenz gemäss Verlagsvertrag
Departement: School of Engineering
Organisationseinheit: Institute of Computational Physics (ICP)
Enthalten in den Sammlungen:Publikationen School of Engineering

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