Publikationstyp: Beitrag in Magazin oder Zeitung
Titel: Schichtparameter zuverlässig bestimmen
Autor/-in: Reinke, Nils
Bariska, Andor
Erschienen in: Journal für Oberflächentechnik
Band(Heft): 2011
Heft: 4
Seite(n): 83
Seiten bis: 85
Erscheinungsdatum: 2011
Verlag / Hrsg. Institution: Springer
ISSN: 0940-8789
Sprache: Deutsch
Fachgebiet (DDC): 530: Physik
660: Technische Chemie
Zusammenfassung: Mit einem neu entwickelten thermischen IR-Messsystem lassen sich Oberflächen zerstörungsfrei, präzise und schnell aus der Distanz kontrollieren. Auch der Einsatz für eine kontinuierliche Prozessüberwachung ohne besondere Sicherheitsvorkehrungen ist erstmals möglich.
URI: https://digitalcollection.zhaw.ch/handle/11475/12418
Volltext Version: Publizierte Version
Lizenz (gemäss Verlagsvertrag): Lizenz gemäss Verlagsvertrag
Departement: School of Engineering
Organisationseinheit: Institut für Datenanalyse und Prozessdesign (IDP)
Institute of Computational Physics (ICP)
Enthalten in den Sammlungen:Publikationen School of Engineering

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Reinke, N., & Bariska, A. (2011). Schichtparameter zuverlässig bestimmen. Journal für Oberflächentechnik, 2011(4), 83–85.
Reinke, N. and Bariska, A. (2011) ‘Schichtparameter zuverlässig bestimmen’, Journal für Oberflächentechnik, 2011(4), pp. 83–85.
N. Reinke and A. Bariska, “Schichtparameter zuverlässig bestimmen,” Journal für Oberflächentechnik, vol. 2011, no. 4, pp. 83–85, 2011.
REINKE, Nils und Andor BARISKA, 2011. Schichtparameter zuverlässig bestimmen. Journal für Oberflächentechnik. 2011. Bd. 2011, Nr. 4, S. 83–85
Reinke, Nils, and Andor Bariska. 2011. “Schichtparameter zuverlässig bestimmen.” Journal für Oberflächentechnik 2011 (4): 83–85.
Reinke, Nils, and Andor Bariska. “Schichtparameter zuverlässig bestimmen.” Journal für Oberflächentechnik, vol. 2011, no. 4, 2011, pp. 83–85.


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