Title: Schichtparameter zuverlässig bestimmen
Authors : Reinke, Nils
Bariska, Andor
Published in : Journal für Oberflächentechnik
Volume(Issue) : 2011
Issue : 4
Pages : 83
Pages to: 85
Publisher / Ed. Institution : Springer
Issue Date: 2011
License (according to publishing contract) : Licence according to publishing contract
Language : German
Subject (DDC) : 530: Physics
660: Chemical engineering
Abstract: Mit einem neu entwickelten thermischen IR-Messsystem lassen sich Oberflächen zerstörungsfrei, präzise und schnell aus der Distanz kontrollieren. Auch der Einsatz für eine kontinuierliche Prozessüberwachung ohne besondere Sicherheitsvorkehrungen ist erstmals möglich.
Departement: School of Engineering
Organisational Unit: Institute of Data Analysis and Process Design (IDP)
Institute of Computational Physics (ICP)
Publication type: Contribution to Magazine or Newspaper
ISSN: 0940-8789
URI: https://digitalcollection.zhaw.ch/handle/11475/12418
Appears in Collections:Publikationen School of Engineering

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