Title: Berührungslose thermische Schichtprüfung
Authors : Bariska, Andor
Reinke, Nils
Published in : Swiss engineering
Volume(Issue) : 2011
Issue : 57
Pages : 16
Publisher / Ed. Institution : Kömedia
Issue Date: 2011
License (according to publishing contract) : Licence according to publishing contract
Language : German
Subjects : Prozesskontroll; Schichtdickenmessung
Subject (DDC) : 530: Physics
660: Chemical engineering
Abstract: Bei der konventionellen Prüfung der Schichtdicke mit einem Messkamm oder mit Querschnittbildern unter dem Mikroskop wird das Produkt beschädigt. Forscher der ZHAW in Winterthur entwickelten ein System, das die Schichten thermisch misst, ohne sie zu zerstören.
Departement: School of Engineering
Organisational Unit: Institute of Data Analysis and Process Design (IDP)
Institute of Computational Physics (ICP)
Publication type: Contribution to Magazine or Newspaper
ISSN: 1660-4121
1422-9153
URI: https://digitalcollection.zhaw.ch/handle/11475/12330
Appears in Collections:Publikationen School of Engineering

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